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產(chǎn)品中心

絕緣電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

絕緣電阻測(cè)試儀 ：320*240大屏幕的LCD顯示，讓... 高速測(cè)量： 100ms 針對(duì)容性器件的接觸檢查功能 超低漏電流測(cè)試：Z低到10pA,精度... 在電流小于10nA時(shí)，可切換輸入內(nèi)阻... 7擋量程或自動(dòng)量程 可編程設(shè)置的順序測(cè)試模式 儀器參數(shù)自動(dòng)保存 通過(guò)U盤自動(dòng)升級(jí)系統(tǒng)固件

產(chǎn)品型號(hào)：HG07-TH2684A

更新時(shí)間：2024-05-26

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問(wèn)量：1000

服務(wù)熱線

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產(chǎn)品介紹

絕緣電阻測(cè)試儀  電阻測(cè)試儀  高量程電阻測(cè)試儀


型號(hào)：HG07-TH2684A


性能特點(diǎn)


320*240大屏幕的LCD顯示，讓...
高速測(cè)量： 100ms
針對(duì)容性器件的接觸檢查功能
超低漏電流測(cè)試：zui低到10pA,精度...
在電流小于10nA時(shí)，可切換輸入內(nèi)阻...
7擋量程或自動(dòng)量程
可編程設(shè)置的順序測(cè)試模式
儀器參數(shù)自動(dòng)保存
通過(guò)U盤自動(dòng)升級(jí)系統(tǒng)固件
Handler接口用于可實(shí)現(xiàn)聯(lián)機(jī)操作...
支持掃描接口，為用戶的大批量測(cè)試提供...

 強(qiáng)勁的充電功能
高測(cè)量精度：±2%至1TΩ
10kΩ – 100TΩ
10V - 1000V，單路輸出
充電電流：2 、 25 、 100m...
4個(gè)可編程限定的檔比較功能
配有電阻R – 時(shí)間T 或 電流I ...
屏幕信息快存于U盤 (COPY鍵)
中英文可選操作界面
RS232C、USB Device實(shí)...



簡(jiǎn)要說(shuō)明

HG07-TH2684A型高精度絕緣電阻測(cè)試儀是一款能快速測(cè)量電子元器件，介質(zhì)材料，設(shè)備和電線電纜等絕緣性能的智能化測(cè)量?jī)x器。采用大尺寸的液晶，人性化的菜單布局，使用戶可更方便的操作儀器。 該款儀器特別適用于電容測(cè)試系統(tǒng)。 HG07-TH2684A可實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試。為實(shí)現(xiàn)快速，采取了如下措施， 1.可選的輸入內(nèi)阻：大于10nA固定使用10k低輸入阻抗，小于10nA可選用1M內(nèi)阻測(cè)試電流。 HG07-TH2684A充電階段支持輸出高達(dá)1000V,100mA, 能保證容性材料的快速充電。 HG07-TH2684A可由用戶自行編程測(cè)試步驟，zui多可達(dá)18步。例如可編程充電，等待，測(cè)試，放電等。每個(gè)步驟zui長(zhǎng)可持續(xù)100S。 HG07-TH2684A*的接觸檢查功能，對(duì)于電容和電纜等一樣的容性材料，接觸檢查功能能很好地判讀器件有沒(méi)接觸好，較少錯(cuò)誤測(cè)試的發(fā)生，另外接觸檢查不會(huì)增加任何測(cè)試時(shí)間。 HG07-TH2684標(biāo)配RS232,USBDEVICE,掃描口，Handler等接口。其中Handler接口為實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供了方便。掃描口，則為大量元器件的測(cè)試提供了方便，用戶可以配一臺(tái)掃描儀來(lái)加快元器件的測(cè)試。

產(chǎn)品型號(hào)：HG07-TH2684A








量程方式自動(dòng), 保持
分選四檔：（三檔合格，一檔不合格）
平均次數(shù)1-100
電阻測(cè)試
范圍
精度
10 kΩ– 100TΩ
I > 100pA: 2%
I ≤ 100 pA: 精度基本等于電流測(cè)試的精度。
存儲(chǔ)器可保存20組儀器設(shè)定值










測(cè)試電壓
范圍
精度
源電阻
電流限制
開(kāi)關(guān)
定時(shí)
可編程的測(cè)量延時(shí)
放電時(shí)間
10 – 1000V,1V步進(jìn)
2% ，或 ± 1V
200Ω
2, 25 ,或100mA
在前面板上手動(dòng)打開(kāi)或關(guān)閉，或通過(guò)內(nèi)置的定時(shí)器控制，或遠(yuǎn)控
可編程的快速充電時(shí)間：0 - 1000s
0 -1000s
t = 0.03 x Cx (in μF) ，電壓跌到測(cè)試電平的1%
測(cè)量電流
范圍
精度
量程1 ：100uA – 1mA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程2 ：10uA – 100uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ, 量程3 ：1uA – 10uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程4 ：100nA – 1uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ, 量程5 ：10nA – 100nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程6 ：1nA – 10nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ或 1MΩ (可選), 量程7 ：10pA – 1nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ或 1MΩ（可選）
2% ± 1pA
測(cè)試速度
觸發(fā)模式
連續(xù)模式
一次測(cè)量: < 100ms(包括充電)
平均zui多100次測(cè)量：<100 + (N-1) x 100 ms (包含充電)
直接讀出： 100ms – 10000ms按照平均數(shù)
接口GPIB, （選件）
RS232C,SCPI命令編程支持
HANDLER接口輸出，, USBDEVICE( USBTMC and USBCDC support)，
USBHOST(FAT16 and FAT32 )，
掃描接口


 

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