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產(chǎn)品中心

當(dāng)前位置：首頁產(chǎn)品中心電力通訊測速表BX-Y1228A半自動四探針觸屏測試儀

半自動四探針觸屏測試儀
產(chǎn)品簡介：

半自動四探針觸屏測試儀方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復(fù)測試或多點的面電阻測量，報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.

產(chǎn)品型號：BX-Y1228A

更新時間：2024-05-15

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：1692

服務(wù)熱線

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產(chǎn)品介紹

關(guān)鍵詞：

雙電四探針測試儀   四探針測試儀   數(shù)字四探針測試儀   探針測試機   半自動四探針測試儀

Y1228A.png

產(chǎn)品用途：半自動四探針觸屏測試儀

四點探針標(biāo)準(zhǔn)測試方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復(fù)測試或多點的面電阻測量，報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.

儀器特點：半自動四探針觸屏測試儀

晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計，如電鍍銅電阻測量等；半導(dǎo)體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.

技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號

BX-Y1228A

1.電阻

10^-6～2×10^5Ω

2.方塊電阻

10^-6～2×10^5Ω/□

3.電阻率

10-7～2×106Ω-cm

4.測試電流

1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA

5.電流精度

±0.1%

6.電阻精度

≤0.3%

7.PC軟件操作

PC軟件界面：電阻、電阻率、電導(dǎo)率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、數(shù)據(jù)管理分析：過程數(shù)據(jù)，大、小值，均值，方差，變異系數(shù)，樣品編號，測試點數(shù)統(tǒng)計報表生成等

8.探針范圍選購：

探針壓力為100-550g；依據(jù)樣品接觸需要手動調(diào)節(jié)

9.探針

針間絕緣電阻：≥1000MΩ；機械游移率：≤0.3%

圓頭銅鍍金材質(zhì)，探針間距1mm；2mm；3mm選配，其他規(guī)格可定制

10.可測晶片

尺寸選購

晶圓尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）；

方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm

11.分析模式

自動或手動單點模式

12.加壓方式

測量重復(fù)性：重復(fù)性≤3% 

13.防護(hù)功能

具有限位量程和壓力保護(hù);誤操作和急停防護(hù);異常警報

14.測試環(huán)境

實驗室環(huán)境

15.電源

輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<100W

16.選購項目

電腦和打印機


 

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